电子元器件\微电子器件可靠性验证
可靠性试验是评价产品可靠性水平的重要手段。月前把测定、验证、评价、分析等凡是为提高产品可靠性而进行的试验,统称为可靠性试验。可靠性试验是开展产品可靠性工作的重要环节。可靠性试验一般是在产品的研究开发阶段和大规模生产阶段进行的。在研究开发阶段,可靠性试验主要用于评价设计质量、材料和工艺质量。在大规模生产阶段,可靠性试验的目的则是质量保证或定期考核管理。由于阶段不同,其月的和内容也不完全相同。
可靠性试验所要达到的目的,可归纳为如下三点∶(1)通过试验来确定电子元器件的可靠性特性值。试验暴露出的在设计、材料、工艺阶段存在的问题和有关数据,对设计者、生产者和使用者都是非常有用的。(2)通过可靠性鉴定试验,可以全面考核电子元器件是否已达到预定的可靠性指标。这是电子元器件新品设计定型必须进行的步骤。(3)通过各种可靠性试验,了解产品在不同的工作、环境条件下的失效规律,摸准失效模式,搞清失效机理,以便采取有效措施,提高产品可靠性。
元器件覆盖范围:
电阻器;电容器;磁珠;电感器;
变压器;晶体振荡器;晶体谐报器;
继电器;电连接器;开关及面板元件;
滤波器;电源模块;IGBT等。
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